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GB/T 4937.23-2023

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半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命

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实施于
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适用范围
最新GB/T 4937.23-2023标准解读；本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模 式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼，可用于筛 选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。
关联标准
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修改单
暂无
标引依据

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