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GB/T 4061-2009
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硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
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基本信息
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归口信息
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基本属性
标准状态:
现行
标准组织:
国家标准
发布时间:
2009-10-30
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
中国标准分类:
H冶金
H80/84半金属与半导体材料
H80半金属与半导体材料综合
国际标准分类:
29电气工程
29.045半导体材料
起草单位
暂无
起草人信息
暂无
标准历程
发布于
实施于
废止于
适用范围
最新GB/T 4061-2009标准解读;本标准规定了以三氯氢硅和四氯化硅为原料在还原炉内用氢气还原出的硅多晶棒的断面夹层化学
关联标准
暂无
修改单
暂无
标引依据
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