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GB/T 41805-2022

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光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法

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最新GB/T 41805-2022标准解读；本文件描述了采用显微散射暗场成像法对光学元件丧面疵病进行定依检测的检测原理、试验条件、 仪器设备、样品、检测步骤、试验数据处理和检测报告。 木文件适川于平板类双而抛光光学元件我面疵病的长度、宽度、
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